Компьютерная оптика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Компьютерная оптика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Компьютерная оптика, 2019, том 43, выпуск 6, страницы 936–945
DOI: https://doi.org/10.18287/2412-6179-2019-43-6-936-945 (Mi co718) 		 
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Метод обработки микроизображений для анализа структур ТЛИППС

Д. А. Белоусовa, А. В. Достоваловab, В. П. Корольковa, С. Л. Микеринa

a Институт автоматики и электрометрии СО РАН, 630090, Россия, г. Новосибирск, проспект Академика Коптюга, д. 1
b Новосибирский государственный университет, 630090, Россия, г. Новосибирск, ул. Пирогова, д. 1
PDF полного текста (1594 kB) Список цитирования (3)
Список литературы:
PDF
HTML
DOI: https://doi.org/10.18287/2412-6179-2019-43-6-936-945
Аннотация: В работе описан метод обработки микроизображений лазерно-индуцированных периодических поверхностных структур для количественной оценки их упорядоченности и дефектности. Приведены результаты его применения для анализа микроизображений периодических структур, сформированных на плёнках хрома толщиной 30 нм астигматически сфокусированным Гауссовым пучком фемтосекундного лазера. Получены зависимости относительной площади модифицированной этим пучком области, площади дефектов, а также упорядоченности периодических структур от скорости сканирования и мощности записывающего пучка.
Ключевые слова: цифровая обработка изображений, микроскопия, лазерная обработка материалов, лазерно-индуцированные периодические поверхностные структуры.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций АААА-А17-117052210002-7
АААА-А17-7062110026-3
Работа выполнена с использованием оборудования ЦКП «Спектроскопия и оптика» ИАиЭ СО РАН, за счёт средств субсидии на финансовое обеспечение выполнения государственного задания (№ гос. регистрации АААА-А17-117052210002-7) в части обработки микроизображений и за счёт средств субсидии на финансовое обеспечение выполнения государственного задания (№ гос. регистрации АААА-А17-7062110026-3) в части формирования ТЛИППС.
Поступила в редакцию: 25.03.2019
Принята в печать: 17.06.2019
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Д. А. Белоусов, А. В. Достовалов, В. П. Корольков, С. Л. Микерин, “Метод обработки микроизображений для анализа структур ТЛИППС”, Компьютерная оптика, 43:6 (2019), 936–945
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BelDosKor19}
\by Д.~А.~Белоусов, А.~В.~Достовалов, В.~П.~Корольков, С.~Л.~Микерин
\paper Метод обработки микроизображений для анализа структур ТЛИППС
\jour Компьютерная оптика
\yr 2019
\vol 43
\issue 6
\pages 936--945
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/co718}
\crossref{https://doi.org/10.18287/2412-6179-2019-43-6-936-945}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/co718
  • https://www.mathnet.ru/rus/co/v43/i6/p936
    • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Компьютерная оптика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:162
    PDF полного текста:52
    Список литературы:23
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024