|
Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)
ЧИСЛЕННЫЕ МЕТОДЫ И АНАЛИЗ ДАННЫХ
Исследование алгоритма параметрической идентификации кристаллических решёток с применением градиентного метода наискорейшего спуска
А. С. Широканевa, Д. В. Киршab, А. В. Куприяновab a Самарский национальный исследовательский университет имени С.П. Королёва, Самара, Россия
b Институт систем обработки изображений РАН - филиал ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Самара, Россия
Аннотация:
При анализе вещества с кристаллической наноструктурой наибольший интерес представляет задача параметрической идентификации кристаллических решёток. Однако существующие методы решения данной задачи, такие как метод оценивания параметров ячейки Браве и метод оценивания объёма ячейки Вигнера–Зейтца, не обеспечивают требуемую точность. В настоящей статье предлагается алгоритм параметрической идентификации кристаллических решёток на основе градиентного метода наискорейшего спуска для решения проблемы низкой точности идентификации. Исследование возможности структурной идентификации проводилось с использованием большого набора искажённых решёток. Полученные результаты показали существенный рост точности по сравнению с существующими методами параметрической идентификации.
Ключевые слова:
параметрическая идентификация, элементарная ячейка, кристаллическая решётка, ячейка Браве, ячейка Вигнера–Зейтца, градиентный метод наискорейшего спуска.
Поступила в редакцию: 29.05.2017 Принята в печать: 05.07.2017
Образец цитирования:
А. С. Широканев, Д. В. Кирш, А. В. Куприянов, “Исследование алгоритма параметрической идентификации кристаллических решёток с применением градиентного метода наискорейшего спуска”, Компьютерная оптика, 41:3 (2017), 453–460
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/co405 https://www.mathnet.ru/rus/co/v41/i3/p453
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 1209 | PDF полного текста: | 71 | Список литературы: | 41 |
|