|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ
Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии
Н. А. Ивлиевab, В. А. Колпаковa, С. В. Кричевскийa a Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева, Самара, Россия
b Институт систем обработки изображений РАН - филиал ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Самара, Россия
Аннотация:
Представлен метод определения концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния по картам латеральных сил и топологии поверхности, полученным методами атомно-силовой микроскопии. Проведена оптимизация значения скорости сканирования, позволяющая повысить контрастность получаемых изображений и облегчить интерпретацию получаемых данных. Экспериментально показано, что чувствительность разработанной методики достигает значения $10^{-11}$ г/см$^2$.
Ключевые слова:
концентрация органических загрязнений, латеральные силы.
Поступила в редакцию: 21.11.2016 Принята в печать: 09.12.2016
Образец цитирования:
Н. А. Ивлиев, В. А. Колпаков, С. В. Кричевский, “Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии”, Компьютерная оптика, 40:6 (2016), 837–843
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/co334 https://www.mathnet.ru/rus/co/v40/i6/p837
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 118 | PDF полного текста: | 40 | Список литературы: | 20 |
|