|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ
Разработка методов формирования и контроля заданного распределения толщины фоторезиста при изготовлении конформальных корректоров
В. П. Корольков, А. С. Конченко, В. В. Черкашин, Н. Г. Миронников Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Аннотация:
В работе обсуждаются проблемы изготовления и контроля качества конформальных корректоров для мощных твердотельных YAG:Nd3+ лазеров. Предложено использовать метод безмасочной проекционной фотолитографии как альтернативу фотолитографии с зазором на основе растрированных полутоновых шаблонов. Рассмотрено применение метода зеркальной спектроскопической рефлектометрии для контроля формы корректоров на стадии рельефа в фоторезисте. Совокупность использованных методов значительно повышает производительность изготовления корректоров в сочетании с удешевлением процесса.
Ключевые слова:
зеркальная спектроскопическая рефлектометрия, безмасочная фотолитография, конформальные корректоры, измерение толщины тонких пленок, профилометрия.
Поступила в редакцию: 30.05.2016 Принята в печать: 16.08.2016
Образец цитирования:
В. П. Корольков, А. С. Конченко, В. В. Черкашин, Н. Г. Миронников, “Разработка методов формирования и контроля заданного распределения толщины фоторезиста при изготовлении конформальных корректоров”, Компьютерная оптика, 40:4 (2016), 482–488
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/co242 https://www.mathnet.ru/rus/co/v40/i4/p482
|
|