|
КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ И АВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ
Компьютерное моделирование смачивающих слоев Li и Be на поверхности Si (100)
В. Г. Заводинскийa, О. А. Горкушаb, Н. И. Плюснинb a Хабаровское отделение Института прикладной математики Дальневосточного отделения Российской академии наук
b Военная академия связи имени маршала Советского Союза С.М. Буденного
Аннотация:
В рамках теории функционала плотности и метода псевдопотенциалов рассчитана атомная и электронная структура формирующихся на поверхности Si (100) двумерных систем Li–Si и Be–Si, при толщине металла от одного до трех монослоев (МС). При одном МС обнаружено формирование двумерного упорядоченного силицидного смачивающего слоя Li (с атомами Li, встроенными внутрь верхнего слоя Si) и Be (с атомами Be, встроенными между двумя верхними слоями Si). При двух МС, происходит видоизменение этих слоев: атомы Li занимают позиции между двумя верхними слоями Si, а атомы Be поднимаются в позиции над верхним слоем Si. После этого, при толщине покрытия 3 МС, в случае Li, формируется сплошной неупорядоченный смачивающий слой Li, а в случае Be – смачивающий слой Be в виде неупорядоченных по длине цепочек. При 1 МС, в электронной структуре исследуемых систем появляется энергетическая щель в плотности электронных состояний в районе уровня Ферми, ширина которой равна 1,02 и 0,36 эВ, соответственно, для систем Li–Si и Be–Si. Затем щель исчезает, сначала для системы с литием (при двух МС), а затем, – для системы с бериллием (при трех МС).
Ключевые слова:
компьютерное квантово-механическое моделирование, силицидообразование, плотность электронных состояний, запрещенная зона.
Образец цитирования:
В. Г. Заводинский, О. А. Горкуша, Н. И. Плюснин, “Компьютерное моделирование смачивающих слоев Li и Be на поверхности Si (100)”, Comp. nanotechnol., 11:1 (2024), 121–126
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/cn466 https://www.mathnet.ru/rus/cn/v11/i1/p121
|
|