Computational nanotechnology
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Comp. nanotechnol.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Computational nanotechnology, 2024, том 11, выпуск 1, страницы 121–126
DOI: https://doi.org/10.33693/2313-223X-2024-11-1-121-126
(Mi cn466)
 

КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ И АВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ

Компьютерное моделирование смачивающих слоев Li и Be на поверхности Si (100)

В. Г. Заводинскийa, О. А. Горкушаb, Н. И. Плюснинb

a Хабаровское отделение Института прикладной математики Дальневосточного отделения Российской академии наук
b Военная академия связи имени маршала Советского Союза С.М. Буденного
Аннотация: В рамках теории функционала плотности и метода псевдопотенциалов рассчитана атомная и электронная структура формирующихся на поверхности Si (100) двумерных систем Li–Si и Be–Si, при толщине металла от одного до трех монослоев (МС). При одном МС обнаружено формирование двумерного упорядоченного силицидного смачивающего слоя Li (с атомами Li, встроенными внутрь верхнего слоя Si) и Be (с атомами Be, встроенными между двумя верхними слоями Si). При двух МС, происходит видоизменение этих слоев: атомы Li занимают позиции между двумя верхними слоями Si, а атомы Be поднимаются в позиции над верхним слоем Si. После этого, при толщине покрытия 3 МС, в случае Li, формируется сплошной неупорядоченный смачивающий слой Li, а в случае Be – смачивающий слой Be в виде неупорядоченных по длине цепочек. При 1 МС, в электронной структуре исследуемых систем появляется энергетическая щель в плотности электронных состояний в районе уровня Ферми, ширина которой равна 1,02 и 0,36 эВ, соответственно, для систем Li–Si и Be–Si. Затем щель исчезает, сначала для системы с литием (при двух МС), а затем, – для системы с бериллием (при трех МС).
Ключевые слова: компьютерное квантово-механическое моделирование, силицидообразование, плотность электронных состояний, запрещенная зона.
Тип публикации: Статья
УДК: 538.911; 538.915
Образец цитирования: В. Г. Заводинский, О. А. Горкуша, Н. И. Плюснин, “Компьютерное моделирование смачивающих слоев Li и Be на поверхности Si (100)”, Comp. nanotechnol., 11:1 (2024), 121–126
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ZavGorPlu24}
\by В.~Г.~Заводинский, О.~А.~Горкуша, Н.~И.~Плюснин
\paper Компьютерное моделирование смачивающих слоев Li и Be на поверхности Si (100)
\jour Comp. nanotechnol.
\yr 2024
\vol 11
\issue 1
\pages 121--126
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/cn466}
\crossref{https://doi.org/10.33693/2313-223X-2024-11-1-121-126}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn466
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn/v11/i1/p121
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Computational nanotechnology
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025