Computational nanotechnology
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Comp. nanotechnol.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Computational nanotechnology, 2021, том 8, выпуск 3, страницы 69–75
DOI: https://doi.org/10.33693/2313-223X-2021-8-3-69-75
(Mi cn349)
 

ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ В ПРОИЗВОДСТВЕ И ПРОМЫШЛЕННОЙ ПРАКТИКЕ

Теоретико-методологическое изучение системы метрологического обеспечения

Э. Б. Искендерзаде, Г. С. Велиев, Ш. В. Ахмедли, А. Я. Зулфугарова, У. Р. Исламова

Азербайджанский Технический Университет
Аннотация: Система метрологического обеспечения - основа управления качеством продукции на машиностроительном предприятии. Важнейшим элементом метрологического обеспечения являются реальные параметры качества. Было изучено, что административная система управления не создает условий для осуществления объективного технического управления и, как следствие, для оптимизации структуры управления, снижения себестоимости продукции и обеспечения качества. Решить эту проблему можно только путем разработки соответствующих математических моделей систем метрологического обеспечения и управления производственными процессами. Однако для построения математических моделей систем метрологического обеспечения и управления производственными процессами необходимо установить функциональные и структурные схемы технологического процесса и сформировать процесс получения графических моделей с использованием параметров надежности изделия. Модель - это упрощенная система, отражающая отдельные элементы и более важные аспекты изучаемого процесса. Один и тот же процесс можно описать разными моделями, а одна модель может описывать разные процессы. Одним из наиболее важных и сложных вопросов при моделировании является определение ключевых показателей системы, которые должны более полно отражать качество продукта. К таким параметрам можно отнести отказ, долговечность, время, затраченное на разработку и ввод продукта в эксплуатацию и т. д. Таким образом, задачу моделирования системы метрологического обеспечения можно сформулировать следующим образом: необходимо найти систему, отвечающую совокупным требованиям исходных данных и в этом случае показатели качества должны иметь наилучшие значения в соответствии с заранее выбранным высшим критерием.
Ключевые слова: качество продукции, метрологическое обеспечение, системная модель, моделирование, непрерывность, модели Булева, марковские модели.
Поступила в редакцию: 03.08.2021
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Э. Б. Искендерзаде, Г. С. Велиев, Ш. В. Ахмедли, А. Я. Зулфугарова, У. Р. Исламова, “Теоретико-методологическое изучение системы метрологического обеспечения”, Comp. nanotechnol., 8:3 (2021), 69–75
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{IsgValAhm21}
\by Э.~Б.~Искендерзаде, Г.~С.~Велиев, Ш.~В.~Ахмедли, А.~Я.~Зулфугарова, У.~Р.~Исламова
\paper Теоретико-методологическое изучение системы метрологического обеспечения
\jour Comp. nanotechnol.
\yr 2021
\vol 8
\issue 3
\pages 69--75
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/cn349}
\crossref{https://doi.org/10.33693/2313-223X-2021-8-3-69-75}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn349
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn/v8/i3/p69
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Computational nanotechnology
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:67
    PDF полного текста:5
    Список литературы:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024