Computational nanotechnology
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Comp. nanotechnol.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Computational nanotechnology, 2021, том 8, выпуск 2, страницы 87–93
DOI: https://doi.org/10.33693/2313-223X-2021-8-2-87-93
(Mi cn340)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ В ПРОИЗВОДСТВЕ И ПРОМЫШЛЕННОЙ ПРАКТИКЕ

Экспериментальное исследование метрологических параметров контроля качества

Э. Б. Искендерзаде, Г. С. Велиев, Ш. В. Ахмедли, У. Р. Исламова

Азербайджанский Технический Университет
Аннотация: В статье рассматривается рациональное использование всех видов ресурсов на предприятии; повышение качества управленческих решений; освоение инновационных технологий; повышение производительности труда; улучшение качества продукции; возможность непредсказуемой обработки и растраты продуктов с помощью моделей, построенных на использовании S-графиков, направленных на своевременное и качественное выполнение заказов. Оценка вероятных параметров модели системы метрологического обеспечения позволяет снизить затраты и время на управление процессами, снизить себестоимость продукции, а также эффективно распределить трудовые, материальные и финансовые ресурсы.
Ключевые слова: графические модели, координатная метрология, отклонения, показатели качества, система метрологического обеспечения, вероятностные параметры, алгоритм идентификации.
Поступила в редакцию: 18.05.2021
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Э. Б. Искендерзаде, Г. С. Велиев, Ш. В. Ахмедли, У. Р. Исламова, “Экспериментальное исследование метрологических параметров контроля качества”, Comp. nanotechnol., 8:2 (2021), 87–93
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{IsgValAhm21}
\by Э.~Б.~Искендерзаде, Г.~С.~Велиев, Ш.~В.~Ахмедли, У.~Р.~Исламова
\paper Экспериментальное исследование метрологических параметров контроля качества
\jour Comp. nanotechnol.
\yr 2021
\vol 8
\issue 2
\pages 87--93
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/cn340}
\crossref{https://doi.org/10.33693/2313-223X-2021-8-2-87-93}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn340
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn/v8/i2/p87
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Computational nanotechnology
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:44
    PDF полного текста:9
    Список литературы:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024