Computational nanotechnology
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Comp. nanotechnol.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Computational nanotechnology, 2018, выпуск 4, страницы 9–16 (Mi cn207)  

05.02.00. МАШИНОСТРОЕНИЕ
05.02.05 РОБОТЫ, МЕХАТРОНИКА И РОБОТОТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ

Multi-angle goniometric computer-assisted lab-on-a-chip reading system stage for vacuum-gas chambers based on analytical scanning electron microscopy platform (goniometric CLEM chambers)
[Компьютеризированная система для многоугловых измерений при считывании аналитических чипов на платформе корреляционной электронно-оптической микроскопии (CLEM) в контролируемых физико-химических условиях в колонне с вакуумированием и напуском газа (ESEM)]

O. V. Gradovab

a N. N. Semenov Institute of Chemical Physics, Russian Academy of Sciences, Moscow
b Institute of Energy Problems of Chemical Physics, Russian Academy of Sciences, Moscow
Аннотация: В данной работе описывается компьютеризированная система с многоосным гониометрическим столиком для многоугловых измерений при считывании аналитических чипов на платформе корреляционной электронно-оптической микроскопии (CLEM - Correlative Light-Electron Microscopy) при контролируемых физико-химических условиях измерений / контролируемой атмосфере в колонне TESLA с вакуумированием рабочего объёма и напуском газа (ESEM - Environmental Scanning Electron Microscopy). Предварительно аргументируется необходимость реализации многоугловой аналитики, причем как для оптических, так и для корпускулярных методов измерений на любой конструктивно-эквивалентной установке. Приводятся аргументы, свидетельствующие о возможности использования подобной геометрии установки не только для многоугловых измерений аналитических чипов (либо с использованием встроенных КМОП- или ПЗС-матриц - детекторов систем проекционной безлинзовой микроскопии на чипе в центральной зоне гониометрического стола в контакте с образцами, либо на месте детектора проходящих электронов TED), но и в исследованиях природных сред - в частности, минеральных структур и структур биоминерализации при различных физико-геохимических условиях их формирования и замещения, с различным текстурно-пространственным разрешением. Предложен принцип комплементарных координат, в которых фиксируемые дескрипторы, значения переменных, по которым производится идентификация объектов / их структурных компонент или компартментов, проецируются на согласованную с геометрией объекта (с соответствующим размерам его структурных компонент разбиением) сетку, а исследование распределения переменных происходит в нескольких системах координат, колокализованных друг с другом. В качестве кастомизированного для данной установки программного решения приводится репрезентация, использующая одновременно эйлеровы угловые координаты и кватернионы.
Ключевые слова: гониометры; корреляционная электронно-оптическая микроскопия; электронная микроскопия в контролируемой атмосфере; безлинзовая микроскопия; имэджинг на чипе; лаборатории на чипе; многоугловое лазерное рассеяние (MALLS); многоугловое рассеяние света (MALS).
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 16-32-00914
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций 0082-2018-0006
The work was started in 2016-2017 with the financial support of the Russian Foundation for Basic Research (project No. 16-32-00914). The work was partly supported by FASO (project 0082-2018-0006, registration code AAAAA18-118020890097-1).
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: O. V. Gradov, “Multi-angle goniometric computer-assisted lab-on-a-chip reading system stage for vacuum-gas chambers based on analytical scanning electron microscopy platform (goniometric CLEM chambers)”, Comp. nanotechnol., 2018, no. 4, 9–16
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Gra18}
\by O.~V.~Gradov
\paper Multi-angle goniometric computer-assisted lab-on-a-chip reading system stage for vacuum-gas chambers based on analytical scanning electron microscopy platform (goniometric CLEM chambers)
\jour Comp. nanotechnol.
\yr 2018
\issue 4
\pages 9--16
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/cn207}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn207
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn/y2018/i4/p9
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Computational nanotechnology
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:140
    PDF полного текста:239
    Список литературы:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024