Computational nanotechnology
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Comp. nanotechnol.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Computational nanotechnology, 2018, выпуск 2, страницы 72–75 (Mi cn189)  
05.14.00. ЭНЕРГЕТИКА
05.14.01. ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ И КОМПЛЕКСЫ

Исследования некоторых явлений в АФН-структурах с изовалентными примесями для разработки приборов и устройств неразрушающего контроля и измерения

А. М. Касимахуноваa, Р. Найманбаевa, Л. К. Мамадалиеваa, Р. А. Нурдиноваa, Ш. А. Олимовb

a Ферганский политехнический институт, Узбекистан, Фергана
b Северный Китайский университет энергетики, КНР, Пекин
PDF полного текста (761 kB)
Аннотация: В данной работе представлено полупроводниковые пленки, легированные изовалентными примесями с аномально большим фотоэлектрический эффектом. Представлено АФН-фотоприемник автономного типа со стабильными параметрами и хорошими деградационными характеристиками и в результате разработаны оптоэлектронные измерительные трансформаторы напряжения (ОИТН) и тока (ОИТТ).
Ключевые слова: аномальное фотонапряжение (АФН), фотоприемники, электрооптические и магнитооптические явления АФН-структурах, фотоэлектретное состояние.
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. М. Касимахунова, Р. Найманбаев, Л. К. Мамадалиева, Р. А. Нурдинова, Ш. А. Олимов, “Исследования некоторых явлений в АФН-структурах с изовалентными примесями для разработки приборов и устройств неразрушающего контроля и измерения”, Comp. nanotechnol., 2018, № 2, 72–75
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KasNayMam18}
\by А.~М.~Касимахунова, Р.~Найманбаев, Л.~К.~Мамадалиева, Р.~А.~Нурдинова, Ш.~А.~Олимов
\paper Исследования некоторых явлений в АФН-структурах с изовалентными примесями для разработки приборов и устройств неразрушающего контроля и измерения
\jour Comp. nanotechnol.
\yr 2018
\issue 2
\pages 72--75
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/cn189}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn189
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn/y2018/i2/p72
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Computational nanotechnology
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:116
    PDF полного текста:43
    Список литературы:1
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024