|
Автоматика и телемеханика, 2007, выпуск 1, страницы 163–174
(Mi at930)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Техническая диагностика
Метод параллельно-последовательного самотестирования в интегральных схемах типа $FPGA$
Г. П. Аксёнова, В. Ф. Халчев Институт проблем управления им. В. А. Трапезникова РАН, Москва
Аннотация:
Рассматривается применение метода параллельно-последовательного самотестирования (ППСТ)
к микросхемам типа FPGA. Даны предложения по преобразованию FPGA
к контролепригодному виду и оценены затраты на это преобразование. Проведено сравнение по затратам метода ППСТ с известными методами тестирования.
Образец цитирования:
Г. П. Аксёнова, В. Ф. Халчев, “Метод параллельно-последовательного самотестирования в интегральных схемах типа $FPGA$”, Автомат. и телемех., 2007, № 1, 163–174; Autom. Remote Control, 68:1 (2007), 149–159
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at930 https://www.mathnet.ru/rus/at/y2007/i1/p163
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 210 | PDF полного текста: | 84 | Список литературы: | 24 | Первая страница: | 1 |
|