|
Автоматика и телемеханика, 2010, выпуск 4, страницы 169–180
(Mi at809)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Техническая диагностика
Анализ возможности локального диагностирования в вычислительных системах с циркулянтной структурой на основе использования избыточности в числе анализируемых исходов тестирования
Ю. К. Димитриев Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, Новосибирск
Аннотация:
Рассматривается локальное диагностирование при множественных неисправностях, когда состояние исправен/неисправен для каждого модуля системы идентифицируется только по результатам сопоставительного анализа исходов тестирования модулей, имеющих с диагностируемым модулем физические связи. Изучаются условия, при которых состояние можно определить не для всех модулей (тупиковое состояние системы). Найдены признаки тупикового состояния отдельных модулей и системы
в целом, использование которых позволяет уменьшить трудоемкость анализа локальной диагностируемости системы. Для систем с циркулянтной диагностической структурой общего вида показана возможность сокращения числа тупиковых состояний при использовании избыточности по числу исходов тестирования, участвующих в сопоставительном анализе. Доказано, что для систем с оптимальной циркулянтной диагностической структурой такая избыточность составляет достаточное условие для исключения тупиковых состояний.
Образец цитирования:
Ю. К. Димитриев, “Анализ возможности локального диагностирования в вычислительных системах с циркулянтной структурой на основе использования избыточности в числе анализируемых исходов тестирования”, Автомат. и телемех., 2010, № 4, 169–180; Autom. Remote Control, 71:4 (2010), 697–707
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at809 https://www.mathnet.ru/rus/at/y2010/i4/p169
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 180 | PDF полного текста: | 60 | Список литературы: | 28 | Первая страница: | 3 |
|