Об одном подходе к организации тестовой диагностики неисправностей дискретных устройств с точностью до блока

Предлагается новый подход к организации тестовой диагностики одиночных константных неисправностей дискретных устройств с точностью до блока. Он заключается в построении диагностической приставки (ДП), использующей неразветвленные выходы блоков, и в применении проверяющих тестов, передающих воздействие анализируемой неисправности на выходы устройства и ДП не менее, чем по двум чувствительным путям. Для обоснования локализующих свойств таких тестов анализируются структурные особенности различимости константных неисправностей выход-входных подсхем разных блоков. Приводится пример.