|
Автоматика и телемеханика, 2008, выпуск 8, страницы 139–152
(Mi at711)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Техническая диагностика
Тестовое диагностирование современных микропроцессоров с использованием функциональных моделей
В. В. Белкин Дальневосточный государственный технический университет, Владивосток
Аннотация:
Представлен новый подход к разработке функциональных диагностических тестов процессоров
с параллелизмом уровня системы команд. Подход основан на функциональной декомпозиции архитектуры процессора и использовании функциональных моделей. Подход применен для разработки методики диагностирования механизмов хранения и передачи данных конвейеризованных процессоров. Разработаны модели и алгоритмы генерирования тестов этих механизмов. Качество диагностических тестов оценено на модели.
Образец цитирования:
В. В. Белкин, “Тестовое диагностирование современных микропроцессоров с использованием функциональных моделей”, Автомат. и телемех., 2008, № 8, 139–152; Autom. Remote Control, 69:8 (2008), 1398–1410
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at711 https://www.mathnet.ru/rus/at/y2008/i8/p139
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 264 | PDF полного текста: | 199 | Список литературы: | 39 | Первая страница: | 2 |
|