Автоматика и телемеханика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Автомат. и телемех.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Автоматика и телемеханика, 1989, выпуск 10, страницы 159–167 (Mi at6453)  
Техническая диагностика

Анализ сигнатурной тестируемости цифровых схем

В. Н. Ярмолик

Минск
PDF полного текста (1496 kB)
Аннотация: Рассматривается расчетный метод определения значения сигнатуры полюса цифровой схемы. Выводится обобщенное условие сигнатурной тестируемости неисправности схемы, исследуется тестируемость двухуровневых комбинационных схем.

Поступила в редакцию: 14.01.1988
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 681.326.7
Образец цитирования: В. Н. Ярмолик, “Анализ сигнатурной тестируемости цифровых схем”, Автомат. и телемех., 1989, № 10, 159–167; Autom. Remote Control, 5:10 (1989), 1437–1443
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Yar89}
\by В.~Н.~Ярмолик
\paper Анализ сигнатурной тестируемости цифровых схем
\jour Автомат. и телемех.
\yr 1989
\issue 10
\pages 159--167
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/at6453}
\zmath{https://zbmath.org/?q=an:0795.94021}
\transl
\jour Autom. Remote Control
\yr 1989
\vol 5
\issue 10
\pages 1437--1443
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/at6453
  • https://www.mathnet.ru/rus/at/y1989/i10/p159
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Автоматика и телемеханика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:94
    PDF полного текста:44
    Первая страница:2
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024