Автоматика и телемеханика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Автомат. и телемех.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Автоматика и телемеханика, 1983, выпуск 6, страницы 148–154 (Mi at5149)  
Техническая диагностика

Определение множества подозреваемых неисправностей по данным моделирования исправного устройства

Ю. В. Малышенко

Владивосток
PDF полного текста (1315 kB)
Аннотация: Рассматривается задача определения множества подозреваемых неисправностей дискретного устройства с использованием данных о структуре и результатов моделирования работы исправного устройства. Диагностируемое устройство может иметь одиночную или кратную логическую неисправность. Полученные результаты могут быть использованы в системах диагностирования с логическим зондом.

Поступила в редакцию: 30.11.1981
Тип публикации: Статья
УДК: 681.326.7:62-504
Образец цитирования: Ю. В. Малышенко, “Определение множества подозреваемых неисправностей по данным моделирования исправного устройства”, Автомат. и телемех., 1983, № 6, 148–154
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Mal83}
\by Ю.~В.~Малышенко
\paper Определение множества подозреваемых неисправностей по данным моделирования исправного устройства
\jour Автомат. и телемех.
\yr 1983
\issue 6
\pages 148--154
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/at5149}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/at5149
  • https://www.mathnet.ru/rus/at/y1983/i6/p148
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Автоматика и телемеханика
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024