|
Автоматика и телемеханика, 1999, выпуск 2, страницы 120–128
(Mi at47)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Техническая диагностика
Неразрушающее тестирование элементов памяти при помощи встроенных средств контроля на четность
Л. А. Закревский, А. А. Иванюк, А. И. Янушкевич, В. Н. Ярмолик Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск
Аннотация:
Данная статья посвящена неразрушающему тестированию памяти с применением контроля на четность, позволяющему обнаруживать константные и переходные неисправности ячеек памяти заданной кратности. Исследуется задача генерации тестов, обеспечивающих 100% покрытие неисправностей указанного класса.
Поступила в редакцию: 13.02.1997
Образец цитирования:
Л. А. Закревский, А. А. Иванюк, А. И. Янушкевич, В. Н. Ярмолик, “Неразрушающее тестирование элементов памяти при помощи встроенных средств контроля на четность”, Автомат. и телемех., 1999, № 2, 120–128; Autom. Remote Control, 60:2 (1999), 243–249
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at47 https://www.mathnet.ru/rus/at/y1999/i2/p120
|
|