|
Автоматика и телемеханика, 1991, выпуск 4, страницы 147–156
(Mi at4163)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Техническая диагностика
Метод параллельно-последовательного самотестирования СБИС на основе их декомпозиции
Г. П. Аксёнова, В. Ф. Халчев Институт проблем управления, Москва
Аннотация:
Излагается метод организации самотестирования СБИС. Встроенная в СБИС аппаратура самотестирования обеспечивает: диагностическую декомпозицию структуры СБИС на совокупность подсхем с управляемыми и наблюдаемыми элементами памяти, последовательно-параллельную проверку подсхем, межподсхемных соединений и выводов СБИС, генерацию исчерпывающего (тривиального) теста подсхем, сжатие выходных реакций проверяемых подсхем во времени и в пространстве (получение сигнатуры СБИС), сравнение действительной и эталонной сигнатур.
Поступила в редакцию: 25.04.1990
Образец цитирования:
Г. П. Аксёнова, В. Ф. Халчев, “Метод параллельно-последовательного самотестирования СБИС на основе их декомпозиции”, Автомат. и телемех., 1991, № 4, 147–156; Autom. Remote Control, 52:4 (1991), 695–704
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at4163 https://www.mathnet.ru/rus/at/y1991/i4/p147
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 128 | PDF полного текста: | 82 | Первая страница: | 2 |
|