Автоматика и телемеханика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Автомат. и телемех.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Автоматика и телемеханика, 1991, выпуск 2, страницы 171–178 (Mi at4126)  

Техническая диагностика

Тестовое диагностирование на основе метрических свойств схем

Р. Х. Латыпов

Казанский государственный университет
Аннотация: Предлагается метод тестового диагностирования путем неполного дублирования проверяемого устройства; тестовая система строится с учетом метрических свойств класса схем, к которому принадлежит проверяемое устройство.

Поступила в редакцию: 26.12.1989
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 681.326.7
Образец цитирования: Р. Х. Латыпов, “Тестовое диагностирование на основе метрических свойств схем”, Автомат. и телемех., 1991, № 2, 171–178; Autom. Remote Control, 52:2 (1991), 283–288
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Lat91}
\by Р.~Х.~Латыпов
\paper Тестовое диагностирование на основе метрических свойств схем
\jour Автомат. и телемех.
\yr 1991
\issue 2
\pages 171--178
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/at4126}
\zmath{https://zbmath.org/?q=an:0735.94015}
\transl
\jour Autom. Remote Control
\yr 1991
\vol 52
\issue 2
\pages 283--288
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/at4126
  • https://www.mathnet.ru/rus/at/y1991/i2/p171
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Автоматика и телемеханика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:164
    PDF полного текста:61
    Первая страница:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024