Оперативное запоминающее устройство с высокими надежностными характеристиками. I

Особенности аппаратуры контроля и восстановления позволяют сделать управляемым процесс надежностной деградации и удлинить интервал эффективной работы оперативного запоминающего устройства с произвольным доступом. Применение однобитовых кристаллов для построения матрицы памяти ограничивает кратность ошибок при сбоях и устойчивых отказах элементов. Для коррекции ошибок в выдаваемой информации и в содержимом памяти используются избыточные контрольные столбцы. Отказавшие столбцы заменяются резервными столбцами, а кроме того – контрольными столбцами, используемыми в качестве резервных. Надежностная модель и результаты исследования, подтвердившие существенное увеличение времени достоверного функционирования оперативного запоминающего устройства, приводятся в части II.