|
Автоматика и телемеханика, 1993, выпуск 2, страницы 3–28
(Mi at2890)
|
|
|
|
Обзоры
Высоконадежные оперативные запоминающие устройства, тенденции развития
Г. В. Буханова Институт проблем управления РАН, Москва
Аннотация:
Дается обзор современных высоконадежных оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) на микросхемах памяти и тенденций их развития. Рассматриваются методы повышения надежности ОЗУ на микросхемах памяти, основанные на введении структурной, информационной и временной избыточности. Приводятся примеры реализаций ОЗУ в отказоустойчивых системах.
Поступила в редакцию: 17.04.1992
Образец цитирования:
Г. В. Буханова, “Высоконадежные оперативные запоминающие устройства, тенденции развития”, Автомат. и телемех., 1993, № 2, 3–28
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at2890 https://www.mathnet.ru/rus/at/y1993/i2/p3
|
|