Автоматика и телемеханика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Автомат. и телемех.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Автоматика и телемеханика, 1993, выпуск 2, страницы 3–28 (Mi at2890)  

Обзоры

Высоконадежные оперативные запоминающие устройства, тенденции развития

Г. В. Буханова

Институт проблем управления РАН, Москва
Аннотация: Дается обзор современных высоконадежных оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) на микросхемах памяти и тенденций их развития. Рассматриваются методы повышения надежности ОЗУ на микросхемах памяти, основанные на введении структурной, информационной и временной избыточности. Приводятся примеры реализаций ОЗУ в отказоустойчивых системах.

Поступила в редакцию: 17.04.1992
Тип публикации: Статья
УДК: 681.327.26(047)
Образец цитирования: Г. В. Буханова, “Высоконадежные оперативные запоминающие устройства, тенденции развития”, Автомат. и телемех., 1993, № 2, 3–28
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Buk93}
\by Г.~В.~Буханова
\paper Высоконадежные оперативные запоминающие устройства, тенденции развития
\jour Автомат. и телемех.
\yr 1993
\issue 2
\pages 3--28
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/at2890}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/at2890
  • https://www.mathnet.ru/rus/at/y1993/i2/p3
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Автоматика и телемеханика
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024