|
Автоматика и телемеханика, 1998, выпуск 10, страницы 147–159
(Mi at2810)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Техническая диагностика
Функциональное тестирование RISC-микропроцессоров
А. В. Кошевенко, С. Г. Шаршунов Дальневосточный государственный технический университет, Владивосток
Аннотация:
Рассмотрена концепция функционального тестирования микропроцессора, основанная на функциональной декомпозиции модели и ориентированная на особенности RISC-архитектуры. Представлены концептуальные модели RISC-микропроцессора как объекта тестирования в формах блок-схемы и обобщенного графа регистровых передач. Определены пути и этапы тестирования, рассмотрены процедуры синтеза тестов для основных механизмов и функциональных модулей микропроцессора; особое внимание уделено проверке механизмов управления обработкой и передачей данных. Эффективность процедур тестирования свидетельствует о высокой тестопригодности RISC-архитектуры.
Поступила в редакцию: 29.05.1997
Образец цитирования:
А. В. Кошевенко, С. Г. Шаршунов, “Функциональное тестирование RISC-микропроцессоров”, Автомат. и телемех., 1998, № 10, 147–159; Autom. Remote Control, 59:10 (1998), 1469–1477
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at2810 https://www.mathnet.ru/rus/at/y1998/i10/p147
|
|