|
Автоматика и телемеханика, 2004, выпуск 8, страницы 156–173
(Mi at1622)
|
|
|
|
Автоматизированные системы управления
Оптимизация параллельно-последовательного процесса самотестирования дискретных устройств
Г. П. Аксёнова Институт проблем управления им. В. А. Трапезникова РАН, Москва
Аннотация:
Оптимизируется параллельно-последовательный процесс самотестирования по критерию наименьших затрат времени и аппаратурных средств. В этой связи представлена процедура формирования внутри кристалла генератора тестов на базе штатной и минимуме привнесенной аппаратуры. Показано, как оптимизировать режим работы генератора, чтобы его “выгодно” было использовать для тестирования как больших, так и малых частей интегральной схемы.
Образец цитирования:
Г. П. Аксёнова, “Оптимизация параллельно-последовательного процесса самотестирования дискретных устройств”, Автомат. и телемех., 2004, № 8, 156–173; Autom. Remote Control, 65:8 (2004), 1312–1327
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at1622 https://www.mathnet.ru/rus/at/y2004/i8/p156
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 150 | PDF полного текста: | 55 | Список литературы: | 40 | Первая страница: | 2 |
|