|
Автоматика и телемеханика, 2015, выпуск 4, страницы 135–148
(Mi at14215)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Безопасность, живучесть, надежность, техническая диагностика
Свойства пар тестовых наборов, обнаруживающих неисправности задержек путей в логических схемах VLSI высокой производительности
А. Ю. Матросова, В. Б. Липский Томский государственный университет
Аннотация:
Одиночная неисправность задержки пути схемы сведена к неисправности соответствующей пути буквы ЭНФ, действующей в течение времени задержки пути. На основе анализа ЭНФ схемы выявлены свойства пар робастных и неробастных тестовых наборов. Показаны возможности сокращения длины проверяющего теста для неисправностей задержек путей.
Образец цитирования:
А. Ю. Матросова, В. Б. Липский, “Свойства пар тестовых наборов, обнаруживающих неисправности задержек путей в логических схемах VLSI высокой производительности”, Автомат. и телемех., 2015, № 4, 135–148; Autom. Remote Control, 76:4 (2015), 658–667
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/at14215 https://www.mathnet.ru/rus/at/y2015/i4/p135
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 193 | PDF полного текста: | 57 | Список литературы: | 55 | Первая страница: | 16 |
|