Edward Chow, Alan Willsky, “Bayesian Design of Decision Rules for Failure Detection”, IEEE Trans. Aerosp. Electron. Syst., AES-20:6 (1984), 761
Tze-Thong Chen, M. Adams, “A sequential failure detection technique and its application”, IEEE Trans. Automat. Contr., 21:5 (1976), 750
B.V. Gnedenko, Yu.K. Belyayev, A.D. Solovyev, Mathematical Methods of Reliability Theory, 1969, 363
Н. М. Воробьев, “О применении последовательного анализа к обнаружению разладки производственного процесса”, Теория вероятн. и ее примен., 10:4 (1965), 733–736 ; N. M. Vorob'ev, “On the application of sequential analysis for the detection of disorder in a manufacturing process”, Theory Probab. Appl., 10:4 (1965), 665–668
А. Н. Ширяев, “К обнаружению разладок производственного процесса. II”, Теория вероятн. и ее примен., 8:4 (1963), 431–443 ; A. N. Shiryaev, “On the Detection of Disorder in a Manufacturing Process. II”, Theory Probab. Appl., 8:4 (1963), 402–413