|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1988 |
| 1. |
В. В. Зуев, А. Н. Петровский, А. О. Сальник, “Измерение решеточной составляющей теплопроводности кремния методом объемной фотодефлекционной спектроскопии”, ТВТ, 26:6 (1988), 1242–1244  |
|
1987 |
| 2. |
А. В. Зенкевич, В. Н. Неволин, А. Н. Петровский, А. О. Сальник, “Фотодефлекционная спектроскопия ионно-имплантированного кремния”, Квантовая электроника, 14:6 (1987), 1274–1278 [A. V. Zenkevich, V. N. Nevolin, A. N. Petrovskiǐ, A. O. Sal'nik, “Photodeflection spectroscopy of ion-implanted silicon”, Sov J Quantum Electron, 17:6 (1987), 811–814  ] |
|
Обратная связь: