|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1999 |
1. |
Ю. В. Быков, А. А. Иванюк, А. И. Янушкевич, В. Н. Ярмолик, “Диагностика неисправностей кмоп-схем на основе Iddq-тестирования”, Автомат. и телемех., 1999, № 7, 142–153 ; Yu. V. Bykov, A. A. Ivanyuk, A. I. Yanushkevich, V. N. Yarmolik, “Iddq testing-based diagnosis of faults in CMOS-circuits”, Autom. Remote Control, 60:7 (1999), 1021–1020 |
|
1996 |
2. |
Ю. В. Быков, В. Н. Ярмолик, “Синтез преобразователей псевдослучайных кодов для реализации самотестирования цифровых устройств, удовлетворяющих требованиям стандарта IEEE”, Автомат. и телемех., 1996, № 4, 148–154 ; Yu. V. Bykov, V. N. Yarmolik, “Converter Synthesis of Pseudorandom Codes for Self-Testing of Digital Devices Satisfying the IEEE Standards”, Autom. Remote Control, 57:4 (1996), 581–586 |
|
1994 |
3. |
Ю. В. Быков, В. Н. Ярмолик, “Синтез преобразователей псевдослучайных кодов для тестирования цифровых схем”, Автомат. и телемех., 1994, № 10, 151–157 ; Yu. V. Bykov, V. N. Yarmolik, “Synthesis of transformers of pseudorandom codes for testing digital schemes”, Autom. Remote Control, 55:10 (1994), 1518–1523 |
4. |
Ю. В. Быков, Л. А. Закревский, В. Н. Ярмолик, “Выбор оптимальных многопараметрических распределений вероятностей входных переменных при вероятностном тестировании цифровых схем”, Автомат. и телемех., 1994, № 4, 144–150 ; Yu. V. Bykov, L. A. Zakrevskiǐ, V. N. Yarmolik, “Choice of optimal multiparametric probability distributions of input variables for probabilistic testing of digital circuits”, Autom. Remote Control, 55:4 (1994), 576–581 |
|