|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2017 |
1. |
В. В. Даньшина, Л. Ф. Калистратова, “Сравнительный анализ толщины и электрической проводимости тонких халькогенидных полупроводниковых пленок”, Физика твердого тела, 59:1 (2017), 172–175 ; V. V. Dan'shina, L. F. Kalistratova, “Comparative analysis of the thickness and electrical conductivity of thin chalcogenide semiconductor films”, Phys. Solid State, 59:1 (2017), 180–183 |
|