|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2017 |
1. |
Д. В. Широкорад, Г. В. Корнич, С. Г. Буга, “Моделирование взаимодействия двудольных биметаллических кластеров с низкоэнергетическими кластерами аргона”, Физика твердого тела, 59:1 (2017), 189–199 ; D. V. Shyrokorad, G. V. Kornich, S. G. Buga, “Simulation of the interaction of bipartite bimetallic clusters with low-energy argon clusters”, Phys. Solid State, 59:1 (2017), 198–208 |
4
|
|
2016 |
2. |
Д. В. Широкорад, Г. В. Корнич, С. Г. Буга, “Молекулярно-динамическое моделирование двудольных биметаллических кластеров под действием низкоэнергетической бомбардировки ионами Ar”, Физика твердого тела, 58:2 (2016), 377–383 ; D. V. Shyrokorad, G. V. Kornich, S. G. Buga, “Molecular dynamics simulation of bipartite bimetallic clusters under low-energy argon ion bombardment”, Phys. Solid State, 58:2 (2016), 387–393 |
6
|
3. |
Д. В. Широкорад, “Высокотемпературное распыление биметаллических кластеров низкоэнергетическими кластерами аргона”, Письма в ЖТФ, 42:19 (2016), 1–8 ; D. V. Shyrokorad, “High-temperature sputtering of bimetallic clusters by low-energy argon clusters”, Tech. Phys. Lett., 42:10 (2016), 975–978 |
1
|
4. |
Д. В. Широкорад, Г. В. Корнич, “Нейросетевой метод восстановления начального профиля концентрации примеси при ионном послойном анализе”, Письма в ЖТФ, 42:14 (2016), 14–20 ; D. V. Shyrokorad, G. V. Kornich, “A neural network method for restoring the initial impurity concentration distribution from data of ion sputter depth profiling”, Tech. Phys. Lett., 42:7 (2016), 722–724 |
|