|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2019 |
| 1. |
В. В. Привезенцев, В. С. Куликаускас, В. А. Скуратов, О. С. Зилова, А. А. Бурмистров, М. Ю. Пресняков, А. В. Горячев, “Изменение структуры и свойств приповерхностного слоя Si, имплантированного Zn, в зависимости от флюенса облучения ионами $^{132}$Xe$^{26+}$ с энергией 167 МэВ”, Физика и техника полупроводников, 53:3 (2019), 332–339   ; V. V. Privezentsev, V. S. Kulikauskas, V. A. Skuratov, O. S. Zilova, A. A. Burmistrov, M. Yu. Presniakov, A. V. Goryachev, “Structure and properties of Zn-implanted Si near-surface layer modification depending on irradiation fluence of $^{132}$Xe$^{26+}$ ions with energy of 167 MeV”, Semiconductors, 53:3 (2019), 313–320 |
|
Обратная связь: