|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2017 |
| 1. |
В. В. Даньшина, Л. Ф. Калистратова, “Сравнительный анализ толщины и электрической проводимости тонких халькогенидных полупроводниковых пленок”, Физика твердого тела, 59:1 (2017), 172–175   ; V. V. Dan'shina, L. F. Kalistratova, “Comparative analysis of the thickness and electrical conductivity of thin chalcogenide semiconductor films”, Phys. Solid State, 59:1 (2017), 180–183 |
|
1985 |
| 2. |
Л. Ф. Калистратова, Э. М. Ярош, “Рентгенографическое исследование твердых растворов V$_{2-x}$Fe$_{x}$O$_{4}$ в области фазовых переходов”, Физика твердого тела, 27:3 (1985), 904–907  |
|
Обратная связь: