|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1986 |
1. |
Г. С. Эйджюнас, Ю. Ф. Каваляускас, А. Ю. Шилейка, “Фотоотражение имплантированных B$^{+}$ кристаллов
Cd$_{0.27}$Hg$_{0.73}$Te в области краевого поглощения”, Физика и техника полупроводников, 20:5 (1986), 789–793 |
|
1983 |
2. |
Е. В. Гураускас, Ю. Ф. Каваляускас, И. Н. Петров, А. Ю. Шилейка, “Профиль распределения дефектов в ионно-имплантированных кристаллах
Hg$_{0.8}$Cd$_{0.2}$Te”, Физика и техника полупроводников, 17:7 (1983), 1322–1324 |
|