|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1987 |
| 1. |
А. В. Говорков, Э. М. Омельяновский, А. Я. Поляков, В. И. Райхштейн, В. А. Фридман, “Новый метод исследования микронеоднородности локальных центров в высокоомных полупроводниковых материалах с использованием РЭМ”, Письма в ЖТФ, 13:7 (1987), 385–388   |
|
1985 |
| 2. |
В. П. Кузнецов, Э. М. Омельяновский, А. Я. Поляков, В. А. Фридман, Г. В. Шепекина, “Исследование спектра глубоких уровней в эпитаксиальных структурах
методом релаксационной спектроскопии фотоиндуцированных токов”, Физика и техника полупроводников, 19:4 (1985), 735–737 |
|
Обратная связь: