|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1992 |
1. |
А. Э. Волошин, И. Л. Смольский, В. Н. Рожанский, “Использование асимметричных съемок в плосковолновой рентгеновской
топографии для исследования микродефектов в кристаллах кремния”, ЖТФ, 62:4 (1992), 171–175 |
|
1987 |
2. |
И. Л. Смольский, Г. А. Дилбарян, Ф. Н. Чуховский, А. И. Рыскин, В. Н. Рожанский, “Экспериментальное исследование и ЭВМ моделирование высокотемпературных изображений дислокаций на рентгеновских секционных топограммах в Si”, Физика твердого тела, 29:5 (1987), 1392–1398 |
|
1986 |
3. |
Г. А. Дилбарян, И. Л. Смольский, В. Н. Рожанский, “Прямое измерение параметров динамического рассеяния рентгеновских лучей кристаллами кремния при повышенных температурах”, Физика твердого тела, 28:9 (1986), 2597–2603 |
|
1984 |
4. |
И. Л. Смольский, А. А. Чернов, Ю. Г. Кузнецов, В. Ф. Парвов, В. Н. Рожанский, “Вицинальная секториальность и ее связь с кинетикой роста кристаллов ADP”, Докл. АН СССР, 278:2 (1984), 358–361 |
|
1981 |
5. |
Ю. Г. Кузнецов, И. Л. Смольский, А. А. Чернов, В. Н. Рожанский, “Реализация бездислокационного роста кристаллов ADP при рентгенотопографическом контроле in situ”, Докл. АН СССР, 260:4 (1981), 864–867 |
|
1979 |
6. |
А. А. Чернов, И. Л. Смольский, В. Ф. Парвов, Ю. Г. Кузнецов, В. Н. Рожанский, “Исследование кинетики роста кристаллов ADP из раствора методом in situ рентгеновской топографии”, Докл. АН СССР, 248:2 (1979), 356–358 |
|