|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2010 |
| 1. |
S. G. Gevorgyan, S. T. Muradyan, M. H. Azaryan, G. H. Karapetyan, “Method for measuring thickness of thin objects with a nanometer resolution, based on the single-layer flat-coil-oscillator method”, Уч. записки ЕГУ, сер. Физика и Математика, 2010, № 3, 63–67  |
|
1984 |
| 2. |
З. Н. Адамян, М. Г. Азарян, В. М. Арутюнян, И. И. Сайдашев, Ю. В. Шмарцев, “Шумы в симметричных планарных структурах из кремния,
компенсированного цинком”, Физика и техника полупроводников, 18:7 (1984), 1173–1177 |
|
Обратная связь: