|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2023 |
| 1. |
Т. Е. Шелковникова, С. Ф. Егоров, П. В. Гуляев, “Применение генеративно-состязательных нейросетей для формирования баз данных в сканирующей туннельной микроскопии”, Компьютерная оптика, 47:2 (2023), 314–322  |
5
|
|
2020 |
| 2. |
П. В. Гуляев, “Применение реперных отметок для координатной привязки к поверхности в сканирующей зондовой микроскопии”, Компьютерная оптика, 44:3 (2020), 420–426 |
12
|
|
2016 |
| 3. |
П. В. Гуляев, Ю. К. Шелковников, К. С. Ермолин, А. И. Кириллов, С. И. Липанов, “Исследование наноструктур на графите с применением сканирующего туннельного микроскопа”, ХФМ, 18:3 (2016), 480–486 |
| 4. |
А. В. Тюриков, Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев, Б. Л. Жуйков, С. И. Липанов, “Моделирование электрохимической стадии процесса формирования острий СТМ-зондов”, ХФМ, 18:2 (2016), 323–330 |
| 5. |
Е. Ю. Шелковников, А. В. Тюриков, П. В. Гуляев, Б. Л. Жуйков, С. И. Липанов, “Особенности применения метода частиц для моделирования процесса изоляции зондирующих острий электрохимического СТМ”, ХФМ, 18:1 (2016), 154–159 |
|
2015 |
| 6. |
П. В. Гуляев, Е. Ю. Шелковников, А. В. Тюриков, А. И. Кириллов, “Многопроходовый метод определения взаимного смещения перекрывающихся изображений наночастиц”, ХФМ, 17:4 (2015), 651–656 |
| 7. |
А. В. Тюриков, Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев, Б. Л. Жуйков, С. И. Липанов, “Исследование влияния макроскопической формы перетравливаемой шейки заготовки СТМ-зонда на его нанотопологию”, ХФМ, 17:3 (2015), 482–487 |
1
|
| 8. |
П. В. Гуляев, Ю. К. Шелковников, К. С. Ермолин, “Применение систем позиционирования для получения и обработки перекрывающихся изображений наночастиц при контроле дисперсности”, ХФМ, 17:2 (2015), 313–318 |
|
Обратная связь: