V. V. Zuev, A. N. Petrovskiĭ, A. O. Sal'nik, “Измерение решеточной составляющей теплопроводности кремния методом объемной фотодефлекционной спектроскопии”, TVT, 26:6 (1988), 1242–1244
1987
2.
A. V. Zenkevich, V. N. Nevolin, A. N. Petrovskiĭ, A. O. Sal'nik, “Photodeflection spectroscopy of ion-implanted silicon”, Kvantovaya Elektronika, 14:6 (1987), 1274–1278 [Sov J Quantum Electron, 17:6 (1987), 811–814]
Contact us: