Teplofizika vysokikh temperatur
RUS  ENG    JOURNALS   PEOPLE   ORGANISATIONS   CONFERENCES   SEMINARS   VIDEO LIBRARY   PACKAGE AMSBIB  
General information
Latest issue
Forthcoming papers
Archive
Impact factor
Guidelines for authors
Submit a manuscript

Search papers
Search references

RSS
Latest issue
Current issues
Archive issues
What is RSS


TVT:
Year:
Volume:
Issue:
Page:
Find




Personal entry:
Login:
Password:
Save password
Enter
Forgotten password?
Register

Teplofizika vysokikh temperatur, 1989, Volume 27, Issue 4, Pages 813–814 (Mi tvt4000)  
Short Communications

Возможность диагностики приэлектродных слоев по эмиссионным характеристикам плазмы

V. L. Galanskii, Yu. E. Kreindel, E. M. Oks

Institute of High Current Electronics, Siberian Branch of the USSR Academy of Sciences, Tomsk
Full-text PDF (165 kB)
Received: 13.09.1988
Document Type: Article
UDC: 537.525
Language: Russian
Citation: V. L. Galanskii, Yu. E. Kreindel, E. M. Oks, “Возможность диагностики приэлектродных слоев по эмиссионным характеристикам плазмы”, TVT, 27:4 (1989), 813–814
Citation in format AMSBIB
\Bibitem{GalKreOks89}
\by V.~L.~Galanskii, Yu.~E.~Kreindel, E.~M.~Oks
\paper Возможность диагностики приэлектродных слоев по эмиссионным характеристикам плазмы
\jour TVT
\yr 1989
\vol 27
\issue 4
\pages 813--814
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvt4000}
Linking options:
  • https://www.mathnet.ru/eng/tvt4000
  • https://www.mathnet.ru/eng/tvt/v27/i4/p813
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Teplofizika vysokikh temperatur Teplofizika vysokikh temperatur
    Statistics & downloads:
    Abstract page:125
    Full-text PDF :73
     
      Contact us:
    		  Terms of Use  Registration to the website  Logotypes © Steklov Mathematical Institute RAS, 2024